Visite de l'INSP: Le microscope à force atomique

Être chercheur, c'est faire des recherches ...
 mais qu'est-ce que cela veut dire concrètement ?

Vendredi 5 février, nous avons visité
l'Institut des NanoSciences de Paris (à Jussieu)

Voici les objets qui entourent un chercheur qui travaille sur le Microscope à Force Atomique (AFM):

Il s'agit du cahier où les chercheurs doivent noter tous ce qu'ils font et comment ils utilisent le AFM.

Ce boitier contient les toutes
petites pointes (chacune sur un
cantilever) qui seront introduites
dans le support.

Il nous présente le support
et la place du cantilever.

Le chercheur introduit le cantilever
dans le support à l'aide d'une pince.

Voici le porte échantillon, au centre, la fine
plaque noire est l'échantillon à analyser.

Ceci est le microscope à force atomique (AFM) sans le
porte échantillon qui doit se trouver
au dessus du microscope.

Olivier Plychéry installe le
porte échantillon sur le AFM

Le point rouge est le laser. Le scientifique règle le laser
qui dois se trouver sur le dos de la pointe,
cela est très délicat et très long

C'est un image vu par un microscope,
dans le but de de régler très
minutieusement le laser sur
le bout de la pointe.

L'image représente les nanoparticules placées
sur l'échantillon. Il s'agit d'un grossissement
à partir de l'image d'origine. En dessous
on observe un graphique qui montre la
topographie de la surface étudiée.

La pointe étant abimée, cette représentation
montre la pointe par rapport au nanoparticules
et non  les nanoparticules par rapport à la pointe.

Voici l'impression avant le zoom effectué par le scientifique,
donc l'image d'origine.

Photos prises et légendées par: Louise